在日常测试中，工程师首先想到的是选择一台合适的测试设备，然后开始工作。他们经常不测量时不要太注意接线细节。事实上，为了达到测量数据的准确性，测试测量的接线方法不容小觑。让让我们看一看。
一般测试对象主要是电流和电压。仪器测得的电压和电流是ADC直接采样的结果，功率、效率、谐波等测试项目都是基于电压和电流的测量，是通过运算得到的，所以电压和电流测量的准确性非常重要。
导体的电阻率会随着温度、器件的老化、线路的共模/串模干扰、测量接线的连接方式、电路的连接方式等而变化。这些都会影响测量结果。本文重点介绍了测量接线方式和电路接线方式。
一、测量接线模式
1、不规则连接3354最差连接方法
图1、图2两条测量线散开，形成一个大的环。当回路中存在变化的磁通量时，根据电磁感应原理，回路中会产生与磁通量变化相同的噪声电压，仪器测得的值并不真实。
图1不规则电压连接模式
图2电流的不规则连接方式
2、通用接线模式——并联接线
图3、图4与分散连接方式相比，测量导线形成的回路很小，仅在连接线之间。
图3电压并联接线的连接方式
图4电流并联接线的连接方式
3、更好的连接方法3354双绞线
图3使用双绞线连接被测信号。与并联布线相比，双绞线将环路细分为每个扭环，相邻的扭环产生与外部磁场相反的噪声电压，从而将其抵消。
图5双绞线电压的接线方式
图6双绞线电流的连接方式
4、 3354同轴电缆的理想连接方法
图7、图8对称同轴电缆的外导体中心与内导体重合，等效面积为0，具有良好的磁场屏蔽效果。
图7电压同轴电缆的连接方式
图8当前同轴电缆的连接方式
二、电路连接接线模式
功耗的影响
与负载相匹配的连接方式可以减少功率损耗对测量精度的影响。以下是考虑电源和负载电阻的情况。参考之前微信文件《功率测量仪器的“特征阻抗”》中电表损耗的定义：
电压表的损耗定义：
电压表和电流表内阻乘积平方根暂称为功率特性阻抗乐器的声音。
当负载电阻RL & gtRP，电压表损耗较大，推荐电流表内部连接方式；当负载电阻RL & ltRP，电流表损耗大，推荐电流表外接方式。
以PA5000为例，电压输入阻抗Rv约为2M，电流输入阻抗Ri约为100m，电流范围为1A，电压范围为300V，电压-电流功耗函数如图9所示。此时Rp=2005447.2。当负载电阻RL大于447.2时，建议电流表内部连接，否则建议外部连接，如图10所示。
图9电压电流表的功率损耗功能图
图10内外连接判断标准图
1、安培计接——测量大电流。
将电压测量电路连接到靠近负载的一侧。电流测量电路测量流过负载的电流IL和流过电压测量电路的电流IU之和。由于测量回路电流为IL，误差仅为IU，对测量精度的影响为IU/IL。
图11电流表外部图
2、电流表接——测量小电流。
将电流测量电路连接到近负载端。电压测量电路测量的电压等于负载电压eL和电流表两端的电压eI之和。因为测量回路电压为eL，所以误差为eI。对测量精度的影响是RI/RL。
图12
在这种情况下，可以考虑两种电流。负载电流IL和通过杂散电容的电流ICs如图15中虚线所示。IL从电流测量电路流经负载，然后流回电源。如虚线所示，ICs从电流测量电路流经杂散电容，外部机箱接地至电源。
因此，即使在电流测量环路中只测量IL，结果也是IL和ICs之和(矢量和)，误差只有ICs。假设施加于Cs的电压为VCs(共模电压)，则ICs可由下式获得。由于ICs的相位超前电压90，功率因数越小，ICs对测量精度的影响越大。
ICs=VCs 2f Cs
图14电流输入端连接到靠近电源的高端。
图15杂散电容的影响
如果电流输入端连接到靠近电源地电位的一端，如图11所示，电流测量电路的低端(LO)靠近地电位，VCs约为零，ICs几乎不流动。这减少了对测量精度的影响。
电压正负连接的影响
1、电压反接
接地信号源的电压被施加到屏蔽外壳对地的电容Cs，从而产生额外的漏电流ICs，这导致信号源内部和LO测试线路阻抗上的电压降。
图16电压反向连接
2、电压正极连接
信号源对屏蔽电容对地施加的电压非常小，ICs为零，没有额外的漏电流。
图17电压正极连接
综上所述，要实现精确测量，测量路线应采用双绞线或同轴电缆，并根据实际情况选择合适的接线方式，做到高低端电压保证不接反。
